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标准产品
VWS 光学系统
产品概述
高性能视觉检测系统,集成光学成像与图像处理算法,为半导体晶圆及精密零部件提供自动化视觉检测方案。
产品核心特点
高分辨率成像
实时图像处理与缺陷识别
支持在线/离线检测模式
可定制检测算法
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主要技术参数
分辨率
≤1μm/pixel
检测速度
≤200ms/片
视场范围
最大 50mm×50mm
接口
GigE/USB3.0
应用场景
半导体晶圆缺陷检测、精密零部件质检、产线自动化检测
沪ICP备2026044261号-1